面積法晶粒度
即時景深擴展(EFI)
顆粒分析
奧林巴斯測量顯微鏡STM7
研究型連續(xù)變倍SZX系列
自動聚焦裝置
Prior程序控制電動載物臺
DP22
Presi制樣設(shè)備
層厚度測量
DP74
夾雜物最惡劣視場法
孔隙率
光源以及配件
截點法晶粒度
普及型GX53奧林巴斯倒置顯微鏡
正立式BX53M奧林巴斯金相顯微鏡
簡易型BXFM
汽車行業(yè)質(zhì)量控制
清潔度分析系統(tǒng)CIX100
普及型連續(xù)變倍SZ系列
STREAM軟件特點
圖譜對照
奧林巴斯清潔度分析系統(tǒng)
奧林巴斯測量顯微鏡
DSX1000數(shù)碼顯微鏡
Linkam顯微鏡熱臺
DP27
偏光顯微鏡BX53P
PCB電鍍分布能力
OLS5100激光共焦顯微鏡
鑄鐵
輔助聚焦裝置
焊接
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