顆粒分析
鑄鐵
正立式BX53M奧林巴斯金相顯微鏡
焊接
即時(shí)景深擴(kuò)展（EFI）
夾雜物最惡劣視場法
圖譜對(duì)照
Linkam顯微鏡熱臺(tái)
DP22
面積法晶粒度
奧林巴斯測量顯微鏡
Prior程序控制電動(dòng)載物臺(tái)
自動(dòng)聚焦裝置
輔助聚焦裝置
層厚度測量
普及型連續(xù)變倍SZ系列
Presi制樣設(shè)備
普及型GX53奧林巴斯倒置顯微鏡
DSX1000數(shù)碼顯微鏡
DP27
簡易型BXFM
奧林巴斯清潔度分析系統(tǒng)
孔隙率
截點(diǎn)法晶粒度
OLS5100激光共焦顯微鏡
研究型連續(xù)變倍SZX系列
奧林巴斯測量顯微鏡STM7
清潔度分析系統(tǒng)CIX100
PCB電鍍分布能力
DP74
光源以及配件
汽車行業(yè)質(zhì)量控制
偏光顯微鏡BX53P
STREAM軟件特點(diǎn)
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