層厚度測量
截點法晶粒度
清潔度分析系統(tǒng)CIX100
研究型連續(xù)變倍SZX系列
Presi制樣設(shè)備
光源以及配件
DSX1000數(shù)碼顯微鏡
奧林巴斯清潔度分析系統(tǒng)
孔隙率
輔助聚焦裝置
奧林巴斯測量顯微鏡STM7
即時景深擴展（EFI）
焊接
夾雜物最惡劣視場法
圖譜對照
DP27
偏光顯微鏡BX53P
Prior程序控制電動載物臺
普及型GX53奧林巴斯倒置顯微鏡
汽車行業(yè)質(zhì)量控制
正立式BX53M奧林巴斯金相顯微鏡
自動聚焦裝置
DP22
普及型連續(xù)變倍SZ系列
顆粒分析
鑄鐵
簡易型BXFM
PCB電鍍分布能力
面積法晶粒度
STREAM軟件特點
Linkam顯微鏡熱臺
OLS5100激光共焦顯微鏡
奧林巴斯測量顯微鏡
DP74
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