面積法晶粒度
奧林巴斯清潔度分析系統(tǒng)
奧林巴斯測(cè)量顯微鏡STM7
STREAM軟件特點(diǎn)
顆粒分析
圖譜對(duì)照
偏光顯微鏡BX53P
夾雜物最惡劣視場(chǎng)法
鑄鐵
孔隙率
焊接
OLS5100激光共焦顯微鏡
簡(jiǎn)易型BXFM
DP22
正立式BX53M奧林巴斯金相顯微鏡
自動(dòng)聚焦裝置
DSX1000數(shù)碼顯微鏡
普及型連續(xù)變倍SZ系列
清潔度分析系統(tǒng)CIX100
Prior程序控制電動(dòng)載物臺(tái)
DP27
Linkam顯微鏡熱臺(tái)
層厚度測(cè)量
奧林巴斯測(cè)量顯微鏡
光源以及配件
PCB電鍍分布能力
輔助聚焦裝置
即時(shí)景深擴(kuò)展(EFI)
普及型GX53奧林巴斯倒置顯微鏡
研究型連續(xù)變倍SZX系列
截點(diǎn)法晶粒度
Presi制樣設(shè)備
DP74
汽車行業(yè)質(zhì)量控制
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