截點法晶粒度
DP74
夾雜物最惡劣視場法
層厚度測量
即時景深擴(kuò)展（EFI）
Presi制樣設(shè)備
汽車行業(yè)質(zhì)量控制
清潔度分析系統(tǒng)CIX100
奧林巴斯清潔度分析系統(tǒng)
STREAM軟件特點
鑄鐵
圖譜對照
奧林巴斯測量顯微鏡STM7
焊接
普及型連續(xù)變倍SZ系列
DSX1000數(shù)碼顯微鏡
PCB電鍍分布能力
簡易型BXFM
DP27
輔助聚焦裝置
Linkam顯微鏡熱臺
奧林巴斯測量顯微鏡
偏光顯微鏡BX53P
面積法晶粒度
研究型連續(xù)變倍SZX系列
光源以及配件
顆粒分析
正立式BX53M奧林巴斯金相顯微鏡
DP22
普及型GX53奧林巴斯倒置顯微鏡
OLS5100激光共焦顯微鏡
自動聚焦裝置
孔隙率
Prior程序控制電動載物臺
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