顆粒分析
面積法晶粒度
奧林巴斯測(cè)量顯微鏡
偏光顯微鏡BX53P
輔助聚焦裝置
奧林巴斯測(cè)量顯微鏡STM7
DP27
光源以及配件
Presi制樣設(shè)備
PCB電鍍分布能力
DP74
DP22
OLS5100激光共焦顯微鏡
清潔度分析系統(tǒng)CIX100
汽車行業(yè)質(zhì)量控制
普及型連續(xù)變倍SZ系列
研究型連續(xù)變倍SZX系列
夾雜物最惡劣視場(chǎng)法
層厚度測(cè)量
Prior程序控制電動(dòng)載物臺(tái)
奧林巴斯清潔度分析系統(tǒng)
自動(dòng)聚焦裝置
圖譜對(duì)照
焊接
STREAM軟件特點(diǎn)
即時(shí)景深擴(kuò)展（EFI）
DSX1000數(shù)碼顯微鏡
普及型GX53奧林巴斯倒置顯微鏡
正立式BX53M奧林巴斯金相顯微鏡
Linkam顯微鏡熱臺(tái)
簡(jiǎn)易型BXFM
孔隙率
鑄鐵
截點(diǎn)法晶粒度
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